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安鉑涂層測厚儀ACEPOM616的詳細介紹
	
	 
		
	 
		安鉑高精度涂層測厚儀ACEPOM616
	 
		能快速、無損傷、**地進行涂、鍍層的測量。既可用于實驗室,也可用于工程現場。通過適用不同的測頭,還可滿足多種測量需要。本儀器**地用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。是材料保護**必備的儀器。本儀器符合以下標準:GB/T 4956-1985磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量,磁性方法;JB/T 8393-1996磁性覆層厚度測量儀JJG 889-95《磁阻法測厚儀》。
	 
		功能特點:
	 
		● 中英文雙語菜單界面操作,可自由選擇語言,簡單方便; 
	 
		●探頭為插拔式,可根據材質選擇和更換探頭; 
		● 本儀器采用了磁性測厚方法,可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等);
	 
		● 具有兩種測量方式:連續測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE);
	 
		● 具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B); 
		  標準偏差(S.DEV); 
		● 操作過程有蜂鳴聲提示;
	 
		● 有高亮LED背光顯示,方便在光線灰暗環境使用。 
		 
		
	 
		技術參數:
	 
		
	 
		 
		 
							型號
						 
							ACEPOM616A
						 
							ACEPOM616B
						 
							測頭類型
						 
							Fe
						 
							NFe
						 
							工作原理
						 
							磁感應
						 
							電渦流
						 
							測量范圍
						 
							0-1250um
						 
							低限分辨率
						 
							0.1μm
						 
							示值誤差
						 
							±(3%H+1)H為被測物實際厚度
						 
							統計功能
						 
							平均值(MEAN)、*大值(MAX)、*小值(MIN)、 
							工作方式
						 
							直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
						 
							測量方式
						 
							連續測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)
						 
							    存儲
						 
							1560個測量值
						 
							    屏顯
						 
							  黑白
						 
							測試條件
						 
							*小曲率半徑mm
						 
							凸1.5、凹9
						 
							*小面積直徑mm
						 
							Φ7
						 
							基本臨界厚度mm
						 
							0.5
						 
							工作環境
						 
							溫度
						 
							0~40℃
						 
							濕度
						 
							20%~90%
						 
							電源
						 
							2*1.5V
						 
							外形尺寸
						 
							163*78*33
						 
							重量
						 
							200g
						 
							標準配置
						 
							主機、標準試片、基體、4節5號電池,文件資料,儀器箱
						 
							選配件
						 
							探頭、基體、試片、皮套
						
	
● 設有五個統計量:平均值(MEAN)、*大值(MAX)、*小值(MIN)、測試次數(NO.)、
	
●多種校準方式:儀器基本校零,并可用五種試片校準對儀器的系統誤差進行修正;
● 具有存儲功能:可存儲4類工件,每類工件26組,每組15個測量值,共1560個測量值;
● 具有刪除功能:對測量中出現的單個可疑數據進行刪除,也可刪除存貯區內的所有數據,以便進行新的測量;
● 設置限界:對限界外的測量值能自動報警;
	
● 設有兩種關機方式:手動關機方式和自動關機方式。
	
	
	
			
				
	
					 
				
						 
					
						 
					
						 
				
					 
				
						 
					
						 
					
						 
				
					 
				
						 
					
						 
					
						 
				
					 
				
						 
					
						 
				
					 
				
						 
					
						 
				
					 
				
						 
					
						 
				
					 
				
						 
					
						 
				
測試次數(NO.)、標準偏差(S.DEV)
						
					 
				
						 
					
						 
				
					 
				
						 
					
						 
				
					 
				
						 
					
						 
				
					 
				
						 
					
						 
				
					 
				
						 
					
						 
					
						 
				
					 
				
						 
					
						 
				
					 
				
						 
					
						 
				
					 
				
						 
					
						 
					
						 
				
					 
				
						 
					
						 
				
					 
				
						 
					
						 
				
					 
				
						 
					
						 
				
					 
				
						 
					
						 
				
					 
				
						 
					
						 
				
					 
			
		
						 
					
						 
				
		
	
		
	
		
	
		
	
		
	
